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簡要描述:食品級二氧化碳氣相色譜儀G60SePdd載高質量的增強型等離子體放電(Epd)傳感技術,PLSV技術,滿足新的標準對于低雜質水平ppb級別的檢測要求,是一款創(chuàng)新型的氣相色譜儀分析系統(tǒng),是一項完備的交鑰匙工程
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產地類別 | 國產 | 價格區(qū)間 | 30萬-50萬 |
適用行業(yè) | 高純氣體分析專用 | 應用領域 | 化工,石油,電子,冶金,綜合 |
食品級二氧化碳氣相色譜儀G60SePdd.
食品級二氧化碳氣相色譜儀概述:
G60SePdd是一款搭載高靈敏度的Epd傳感技術,PLSV技術的氣相色譜分析系統(tǒng),滿足于新的和未來法規(guī)的創(chuàng)新型解決方案
食品級二氧化碳的質量控制是最重要的,因為一些雜質不僅會影響產品的口味,而且會影響消費者的健康。最近,新的法規(guī)出臺,要求雜質水平比以前低10倍。這只有在使用復雜和昂貴設置的實驗室中才能實現(xiàn)較低的檢出限。我們創(chuàng)新解決方案就是為了應對這一需求而開發(fā)的,您可以全天候地信賴它的可靠性和耐用性。
測量的雜質:
氣體 (H2, Ar, O2, N2, CH4, CO 和 CO2)
BTEX
THC
乙醛
醇類(甲醇和乙醇)
特點:
高靈敏度的Epd傳感技術。
高性能的SCS(樣品濃縮系統(tǒng))。
采用樣品完整性高的PLSV氣相色譜閥技。
吹掃型高精度APC控制器。
主要規(guī)格:
測量范圍:1 ppm
檢測限(LOD):1 ppb
基質:二氧化碳
載氣:氦氣
其他應用:
SiH4 分析
超高純二氧化碳分析.
超高純NH3分析
超高純空氣分析
超高純CH4分析
HC1分析
C4F8分析。
增強型附件介紹:樣品濃縮系統(tǒng)SCS.
一、樣品濃縮系統(tǒng) :不可比擬的樣品完整性
我們的樣品濃縮系統(tǒng)(SCS)既可以作為19英寸機架式設備的用于iMOv,也可以作為獨立的臺式設備用于miniMOv,它是圍繞我們的吹掃密封閥(PLSV)捕集和釋放閥(T&R)設計的,具有du特的可配置的4步流程,確保樣品的完整性。當與我們的電子制冷式冷阱和急速加熱器結合使用時,你將受益于非常好的性能。
二、特點:
du特的可配置的4步流程:采樣、放空樣品基質、捕集阱富集和捕集阱釋放。
采用吹掃密封閥(PLSV)技術,具有wu可比擬的泄漏完整性。
捕集溫度低至-30℃,釋放溫度高至300℃。
彈道式釋放溫度
分流樣品注入
可提供惰性化流路。
三、典型應用:
揮發(fā)性有機物分析
硫化物分析
濃縮永jiu氣體
任何其他需要濃縮的應用。
任何使用泄漏敏感的檢測器應用,如質譜儀。
四、解決方案亮點:
4.1、獨te的可配置的4步流程
獨te的捕集器隔離步驟改善了色譜法和峰的清晰度
獨te的樣品基質排放步驟簡化并改善了色譜法
由于PLSV技術具有wu可比擬的泄漏完整性,在釋放階段沒有檢測器基線移動
4.2基質放空功能
T&Rdu特的嵌入式樣品基質吹掃功能可以吹掃樣品基質。例如,氫氣基質可以被放空,而我們創(chuàng)新的捕集材料允許永jiu氣體濃度達到ppt的檢測極限。
4.3無冷點
當與我們的iMOv或miniMOv平臺結合時,它不需要加熱的傳輸線。這一設計特點是改進色譜法的關鍵,因為它減少了冷點的風險
4.4采用PLSV閥技術
通常情況下,樣品濃縮用于痕量測量應用。為了防止污染,樣品的完整性是關鍵。更重要的是,閥門的泄漏會導致基線波動和噪音。我們的樣品濃縮儀的zhuo越性能歸結于我們du特的吹掃密封閥(PLSV),當它與du特的嵌入式4步流程相結合時,克服了所有這些問題,提供了wu與倫比的性能。
無泄漏。消除了內側/外側和交叉口的泄漏,防止色譜柱污染和基線偏移(來自于空氣泄漏)
改善基線噪音
嵌入式4步流程,具有du特的基質放空功能
無死體積。內部流路不包含任何無用的體積
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